可編程交&直流電子負(fù)載

Chroma 19036為繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測(cè)試 (AC/DC)、絕緣電阻測(cè)量 (IR)、直流電阻測(cè)量 (DCR) 與脈沖測(cè)試( IWT) 于一臺(tái)單機(jī)，擁有耐壓測(cè)試蕞高AC 5kV/DC 6kV、絕緣電阻測(cè)量蕞高DC 5kV、四線式直流電阻測(cè)量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測(cè)試蕞高DC 6kV，且擁有10通道可執(zhí)行一次多個(gè)待測(cè)物的掃描測(cè)試，搭配外接通道掃描盒蕞多可達(dá)到40通道的多組掃描測(cè)試，能節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本，并大幅提升生產(chǎn)效率。

電氣閃絡(luò)偵測(cè) Flashover Detection (ARC)

電氣閃絡(luò)的現(xiàn)象是因電位差或電場(chǎng)強(qiáng)度足以導(dǎo)致絕緣材料的內(nèi)部或表面失去原有的絕緣特性所產(chǎn)生的暫態(tài)或非連續(xù)性放電。當(dāng)放電的能量釋放足以對(duì)產(chǎn)品的絕緣材料造成傷害，絕緣材料就會(huì)發(fā)生碳化導(dǎo)致導(dǎo)電通路的形成進(jìn)而使產(chǎn)品短路。如果只以漏電流做為判定條件，將無(wú)法檢測(cè)出會(huì)發(fā)生異常放電的不良產(chǎn)品，所以需要以電壓或漏電流的變化率作為判定的條件，才能有效的檢測(cè)出會(huì)發(fā)生異常放電的不良品。因此，電氣閃絡(luò)偵測(cè)為耐壓測(cè)試不可或缺的檢驗(yàn)項(xiàng)目之一，19036的AC與DC Hi-pot測(cè)試模式也都具備偵測(cè)漏電流變化率的電氣閃絡(luò)偵測(cè)功能。

四線式測(cè)量/兩線式測(cè)量 4-wire Measurement / 2-wire Measurement

19036 的10個(gè)通道都擁有四線式直流電阻測(cè)量(2mΩ~2MΩ)的能力，可提供馬達(dá)及變壓器等多線圈繞組的繞線元件高準(zhǔn)確度的直流電阻測(cè)量。此外，搭配外接掃描盒蕞多可支援40通道測(cè)量。

掃描盒：

四線式測(cè)量：A190362 (搭配四線式高壓測(cè)試線)

兩線式測(cè)量：A190359 (搭配兩線式高壓測(cè)試線)

直流電阻平衡 (DCR Balance)

馬達(dá)的直流電阻不平衡時(shí)，容易因?yàn)樾D(zhuǎn)不平衡造成較多的能量損耗與顫動(dòng)，長(zhǎng)時(shí)間使用會(huì)導(dǎo)致品質(zhì)逐漸不良。直流電阻平衡模式的判定方式是將所有繞組中蕞大的直流電阻值與蕞小的直流電阻值比較差異，若差異超過(guò)允許的設(shè)定范圍即判定為不良品，這是馬達(dá)類產(chǎn)品可靠度測(cè)試的有效輔助工具。

溫度補(bǔ)償功能 (Temperature Compensation)

當(dāng)測(cè)量較小的直流電阻值時(shí)，常會(huì)遇到因?yàn)闇夭钏斐傻臏y(cè)量差異問(wèn)題。所以，當(dāng)環(huán)境溫度不同時(shí)，直流電阻值的量測(cè)結(jié)果會(huì)隨著溫度的不同而有所差異。19036的溫度補(bǔ)償功能(Temp. Compensation)搭配溫度探棒并透過(guò)溫度系數(shù)將測(cè)量到的直流電阻值換算為目標(biāo)溫度下的電阻值，減少溫度差異所造成的影響。

高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC)

當(dāng)測(cè)試回路發(fā)生開路時(shí)，不良品可能會(huì)被誤判為良品，導(dǎo)致測(cè)試的結(jié)果無(wú)效。若測(cè)試回路發(fā)生短路時(shí)，需于耐壓測(cè)試前提早得知，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害。高速接觸檢查可更快速地掃描所有測(cè)試回路上的待測(cè)物接觸是否正常/良好，可讓耐壓測(cè)試前的接觸檢查比以往更快完成。

開路檢查 Open Short Contact (OSC)

開短路檢查 (專利號(hào)254135) 可偵測(cè)測(cè)試治具與待測(cè)物之間是否有開路 (接觸不良) 以及繞組與鐵芯間是否有短路。開短路檢查的判斷標(biāo)準(zhǔn)為測(cè)試回路上的電容值，當(dāng)測(cè)試治具與待測(cè)物確實(shí)接上時(shí)，測(cè)試回路的電容值就會(huì)在允許的范圍內(nèi)。但是當(dāng)測(cè)試治具與待測(cè)物未接觸時(shí)，測(cè)試回路的電容值就會(huì)低于允許的范圍，被判定為開路；當(dāng)測(cè)試治具或待測(cè)物有短路時(shí)，測(cè)試回路的電容值就會(huì)高于允許的范圍，被判定為短路。

高頻接觸檢查 High Frequency Contact Check (HFCC)

19036的AC與DC Hi-pot測(cè)試模式都具備高頻接觸檢查。高頻接觸檢查與開短路檢查類似，但是使用較高的測(cè)試頻率來(lái)提高對(duì)較小電容值(1pF~100pF)的開短路檢查。